上海安竹光電X射線檢測設(shè)備 生產(chǎn)多種類型XDR-AZ550型XDR-AZ1500型 XDR-AZ350型 XDR-AZ1600型 XDR-AZ850型 XDR-AZ950型微焦數(shù)字成像 XDR-AZ650微焦X射線檢測設(shè)備 DR平板探測器 非晶硅 無線 有線 動態(tài) 靜態(tài) 尺寸大小 等 款式多多 供客戶選擇 詳情請聯(lián)系：上海安竹光電

檢測元器件封裝完整性通過高清圖像可以檢測元器件的封裝是否完整，及時發(fā)現(xiàn)物理損傷或缺陷，避免因封裝問題影響元器件性能4。

可檢測的電子元器件及常見缺陷可檢測的元器件涵蓋半導(dǎo)體、電容電阻、二極管、保險絲、傳感器、連接器、電源開關(guān)、加熱管、加熱絲、PCB、VGA、BAG、LED、USB、IC芯片、導(dǎo)線、端子、數(shù)據(jù)線、五金件、機電元件等眾多工業(yè)產(chǎn)品13。

常見缺陷包括電子產(chǎn)品位置是否偏移、少錫、雜質(zhì)、變形，是否脫焊、斷裂，各類元器件中的氣孔、裂紋、虛焊等，以及結(jié)構(gòu)復(fù)雜的鑄造件、管件焊縫的空焊、虛焊等內(nèi)部瑕疵5。