失效率

現(xiàn)階段，失效率主要被用來對產(chǎn)品是否可靠進(jìn)行量化描述。該特征數(shù)指的是在某時刻前始終處于正常運行狀態(tài)的產(chǎn)品，在運行到這一時刻后在單位時間內(nèi)出現(xiàn)失效問題的概率。作為對產(chǎn)品是否可靠進(jìn)行判斷的主要依據(jù)，失效率等級往往與元件質(zhì)量、可靠性水平密切相關(guān)，現(xiàn)階段，各版本國軍標(biāo)所采取表述方式通常存在明確區(qū)別。例如，GJB65A-91 將繼電器對應(yīng)失效率等級劃分成了 4 級，由低至高依次為 Y/W/L/Q 級，并指出電容器同樣遵循以上規(guī)定。GJB244-87 則將元件失效率等級劃分成為 W/L/Q/B 4級。對于由國軍標(biāo)生產(chǎn)線所生產(chǎn)、已通過認(rèn)證且在產(chǎn)品目錄中有據(jù)可循的缺少可靠指標(biāo)的電連接器和云母電容器等元件，有關(guān)人員通常用 J 對其質(zhì)保等級進(jìn)行描述。

電子元器件在質(zhì)量方面國際上有歐盟的CE認(rèn)證，美國的UL認(rèn)證，德國的VDE和TUV認(rèn)證以及中國的CQC認(rèn)證等國內(nèi)外認(rèn)證，來保證元器件的合格。

組合電路

集成電路是一種采用特殊工藝，將晶體管、電阻、電容等元件集成在硅基片上而形成的具有一定功能的器件，英文縮寫為IC，也俗稱芯片。

模擬集成電路是指由電阻、電容、晶體管等元件集成在一起用來處理模擬信號的模擬集成電路。有許多的模擬集成電路，如集成運算放大器、比較器、對數(shù)和指數(shù)放大器、模擬乘(除)法器、鎖相環(huán)、電源管理芯片等。模擬集成電路的主要構(gòu)成電路有：放大器、濾波器、反饋電路、基準(zhǔn)源電路、開關(guān)電容電路等。模擬集成電路設(shè)計主要是通過有經(jīng)驗的設(shè)計師進(jìn)行手動的電路調(diào)試、模擬而得到，與此相對應(yīng)的數(shù)字集成電路設(shè)計大部分是通過使用硬件描述語言在EDA軟件的控制下自動的綜合產(chǎn)生。

二極管

半導(dǎo)體二極管又稱晶體二極管，簡稱二極管(diode)；它只往一個方向傳送電流的電子零件。它是一種由有一個PN結(jié)加上相應(yīng)的電極引線及管殼封裝而成。

開關(guān)二極管/ 普通二極管

穩(wěn)壓二極管/肖特基二極管

雙向觸發(fā)二極管/快恢復(fù)二極管

光電二極管/阻尼二極管

磁敏二極管/整流二極管

發(fā)光二極管/激光二極管

變?nèi)荻O管 /檢波二極管

其他二極管