在SIL認(rèn)證中，我們知道失效率是非常核心的一個(gè)數(shù)據(jù)，得出了產(chǎn)品失效率我們就可以知道這個(gè)產(chǎn)品是不是符合相應(yīng)SIL等級(jí)的要求，是不是要做修改，它的修改方向是什么等等，那么在中國(guó)化的SIL認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)GB/T 20438.4-2017中我們可以知道確定失效率的兩種方法。

種方法我們可以稱之為理論計(jì)算，我們可以通過(guò)FMEDA這樣的一個(gè)失效分析工具，通過(guò)各個(gè)元器件的固有失效率得出整個(gè)產(chǎn)品的總的失效率，在這個(gè)過(guò)程中，更依賴的數(shù)學(xué)工具以及功能原理的運(yùn)用，得出的是數(shù)學(xué)層面，理論層面的數(shù)據(jù)。

另一種方法我們可以稱之為經(jīng)驗(yàn)分析，這種分析的理論基礎(chǔ)是統(tǒng)計(jì)學(xué)原理，它的具體方法是我們收集在整個(gè)產(chǎn)品的使用壽命周期內(nèi)，失效事件的發(fā)生次數(shù)，得出一個(gè)失效事件的發(fā)生頻率，當(dāng)我們收集的樣本足夠大，統(tǒng)計(jì)學(xué)原理告訴我們這個(gè)失效事件的發(fā)生頻率就會(huì)越趨近于一個(gè)固定值，這個(gè)固定值也就是這個(gè)產(chǎn)品的固有失效率了。

通過(guò)對(duì)這兩種方法的分析，我們就可以很清楚的了解到，當(dāng)一個(gè)新產(chǎn)品面世時(shí)進(jìn)行SIL認(rèn)證我們往往采用的是種方法，而對(duì)于一個(gè)傳統(tǒng)的產(chǎn)品我們進(jìn)行SIL認(rèn)證采用第二種方法會(huì)更準(zhǔn)確。