QFN20-0.4翻蓋彈片測(cè)試座
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
產(chǎn)品用途:編程座、測(cè)試座，對(duì)QFN20的IC芯片進(jìn)行燒寫、測(cè)試
適用封裝:QFN20 引腳間距0.4mm
測(cè)試座:QFN20-0.4
特點(diǎn):采用U型頂針，接觸更穩(wěn)定
規(guī)格尺寸
型號(hào):QFN-20-0.4
引腳間距(mm):0.4
腳位:20
芯片尺寸:3*3
免費(fèi)店鋪在線升級(jí)
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QFN20-0.4翻蓋彈片測(cè)試座
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適用封裝:QFN20 引腳間距0.4mm
測(cè)試座:QFN20-0.4
特點(diǎn):采用U型頂針，接觸更穩(wěn)定
規(guī)格尺寸
型號(hào):QFN-20-0.4
引腳間距(mm):0.4
腳位:20
芯片尺寸:3*3
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