硬盤讀寫頻繁是否真的傷害硬盤兼FLASHGET是否真的傷害硬盤？

事先說明一下，我這里只是提到FLASHGET，沒有提到ED和FTP是因為它們的原理都是一樣的，我也懶得一個一個打字而已

我強調(diào)一下，我這里只是提到FLASHGET，但是它和ED,FTP的原理是一樣的對硬盤的所謂耗損也是一樣的。

先引用一下某人的話

為什么頻繁讀寫會損壞硬盤呢?

磁頭壽命是有限的，頻繁的讀寫會加快磁頭臂及磁頭電機的磨損，頻繁的讀寫磁盤某個區(qū)域更會使該區(qū)溫度升高，將影響該區(qū)磁介質(zhì)的穩(wěn)定性還會導(dǎo)至讀寫錯誤，高溫還會使該區(qū)因熱膨漲而使磁頭和碟面更近了(正常情況下磁頭和碟面只有幾個微米，更近還了?)，而且也會影響薄膜式磁頭的數(shù)據(jù)讀取靈敏度，會使晶體振蕩器的時鐘主頻發(fā)生改變，還會造成硬盤電路元件失靈。

任務(wù)繁多也會導(dǎo)至IDE硬盤過早損壞，由于IDE硬盤自身的不足，過多任務(wù)請求是會使尋道失敗率上升導(dǎo)至磁頭頻繁復(fù)位(復(fù)位就是磁頭回復(fù)到 0磁道，以便重新尋道)加速磁頭臂及磁頭電機磨損。

我先說一下現(xiàn)代硬盤的工作原理

現(xiàn)在的硬盤,無論是IDE還是SCSI,采用的都是"溫徹思特技術(shù),都有以下特點:

1、磁頭，盤片及運動機構(gòu)密封。

2、固定并高速旋轉(zhuǎn)的鍍磁盤片表面平整光滑。

3、磁頭沿盤片徑向移動。

4、磁頭對盤片接觸式啟停，但工作時呈飛行狀態(tài)不與盤片直接接觸。

盤片:硬盤盤片是將磁粉附著在鋁合金(新材料也有用玻璃)圓盤片的表面上.這些磁粉被劃分成稱為磁道的若干個同心圓，在每個同心圓的磁道上就好像有無數(shù)的任意排列的小磁鐵，它們分別代表著0和1的狀態(tài)。當(dāng)這些小磁鐵受到來自磁頭的磁力影響時，其排列的方向會隨之改變。利用磁頭的磁力控制指定的一些小磁鐵方向，使每個小磁鐵都可以用來儲存信息。

盤體:硬盤的盤體由多個盤片組成，這些盤片重疊在一起放在一個密封的盒中，它們在主軸電機的帶動下以很高的速度旋轉(zhuǎn)，其每分鐘轉(zhuǎn)速達3600，4500，5400，7200甚至以上。

磁頭:硬盤的磁頭用來讀取或者修改盤片上磁性物質(zhì)的狀態(tài)，一般說來，每一個磁面都會有一個磁頭，從上面開始，從0開始編號。磁頭在停止工作時，與磁盤是接觸的，但是在工作時呈飛行狀態(tài)。磁頭采取在盤片的著陸區(qū)接觸式啟停的方式，著陸區(qū)不存放任何數(shù)據(jù)，磁頭在此區(qū)域啟停，不存在損傷任何數(shù)據(jù)的問題。讀取數(shù)據(jù)時，盤片高速旋轉(zhuǎn)，由于對磁頭運動采取了精巧的空氣動力學(xué)設(shè)計，此時磁